Использование оборудования лаборатории для проведения конкретных исследований
Физические лица (представители заинтересованного пользователя) непосредственно к работе на оборудовании НТВП «Поверхность» не допускаются из-за уникальности проводимых исследований и особых требований по квалификации обслуживающего научного персонала. Для заказа исследований загрузить бланки заявок и проект договора.
Типовые услуги, их стоимость, используемые методы и оборудование
-
1 Исследование микроструктуры образцов из стали и сплавов. Приготовление металлографического шлифа и травление для выявления микроструктуры и морфологии неметаллических включений, карбидной или интерметаллидной фаз.
Описание работы:
- Исследование микроструктуры при увеличениях от 20 до 10000 крат методом растровой электронной микроскопии.
- Определение величины зерна, загрязненности неметаллическими включениями, определение типа неметаллических включений.
- Анализ соответствия микроструктуры требованиям ГОСТ.
Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный SPD детектором и возможностью исследования в режимах Z-contrast, SEI, BEI, AEI.
Стоимость: 15000-37500 руб. за 1 исследование.
-
2 Анализ причин разрушения металлических конструкций и изделий комплексным исследованием микроструктуры стали или сплава, морфологии защитных покрытий, коррозионных, усталостных или иных повреждений.
Описание работы:
- Вырезка образцов.
- Изготовление металлографических шлифов.
- Исследование микроструктуры поперечных сечений, морфологии поверхности, фрактографическое исследование зон разрушения или деградации.
Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM35С японской фирмы JEOL.
Стоимость: 37500-40000 руб. за 1 исследование.
-
3 Разрушение образцов «in situ» в растровом электронном микроскопе для изучения микромеханизма разрушения.
Описание работы:
- Изготовление специальных образцов с надрезом с эл. полированной или травленной поверхностью.
- Плавное механическое нагружение растяжением с постадийной съемкой изображений при малых и высоких увеличениях с анализом зон локализации деформаций.
Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный приставкой для растяжения образцов в колоне микроскопа.
Стоимость: 45000 руб. за 1 исследование.
-
4 Электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS).
Описание работы:
- Определение химического состава поверхности и тонких пленок.
- Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.
- Определение фазового состава.
- Исследование валентной зоны.
- Исследование энергии экстра-атомной релаксации и других тонких электронных взаимодействий в химических соединениях, включениях, квантовых точках, нанокристаллах.
Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Монохроматизированное Al K-альфа излучение, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
Стоимость: 45000-55000 руб. за 1 исследование.
-
5 Спектроскопия Оже-электронов.
Описание работы:
- Определение химического состава поверхности и тонких пленок.
- Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.
- Исследование неоднородности распределения химических элементов по направлению при изучении ликвации или микросегрегаций.
- Построение диаграмм многокомпонентной сегрегации химических элементов при нагреве образцов до 600°С.
- Оже-микроскопия.
Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.
-
6 Вибрационная электронная спектроскопия (HREELS).
Описание работы: Анализ адсорбированных молекул, анализ фононных и плазмонных возбуждений, энергий межзонных и внутризонных переходов в полупроводниках и диэлектриках.
Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.0025 эВ). Электронный источник медленных электронов EMU50 с монохроматизацией энергии первичных электронов (17 мэВ) от 0 до 100 эВ , температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
Стоимость: 55000 руб. за 1 исследование.
-
7 Исследование атомной структуры поверхности по спектрам потери энергии электронов (EELFS).
Описание работы: Получение и Фурье-анализ протяженной тонкой структуры спектров потери энергии электронов с построением обобщенной и локальной функции радиального распределения.
Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.
-
8 Плазмонная электронная микроскопия.
Описание работы: Картины линейного и пространственного распределения плазмонных возбуждений под действием электронного сканирующего излучения.
Прибор:
- Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
- Применение уникальной компьютерной программы управления спектрометром и анализом изображений.
Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.
-
9 Определение следовых содержаний химических элементов, от водорода и до 15 000 а.е.м. методом масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS).
Описание работы: Спектры масс положительных и отрицательных вторичных ионов, усреднённый состав и карты распределения по поверхности.
Прибор: Времяпролётный масс-спектрометр TOF.SIMS5 (IONTOF GmbH, Германия). Сканирующий источник ионов висмута (пятно диаметром 25 нм), разрешение при глубинном профилировании 1 нм, температуры -196 до 550 °С.
Стоимость: от 65000 руб. за 1 исследование.
-
10 Анализ поверхности разрушения при получении излома в глубоком вакууме 10-8 Па при -70 °С.
Описание работы: XPS, AES, SIMS.
Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Различные источники возбуждения сигнала. Температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
Стоимость: 45000-55000 руб. за 1 исследование.
-
11 Дифференциальный термический анализ.
Описание работы: Определение тепловых эффектов, сопровождающих структурные или фазовые превращения.
Прибор: Микроанализатор ATD M4 французской фирмы SETARAM. Температуры 196 – 1600 °С.
Стоимость: 55000 руб. за 1 исследование.
Для заказа физических исследований выбранными Вами методами заполните и пришлите Бланк заказа и Договор.