Исследовательское оборудование, методы и виды услуг лаборатории
1. Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL
Технические характеристики:
- Снабжён SPD детектором и возможностью исследования в режимах Z-contrast, SEI, BEI, AEI.
- Снабжён приставкой для растяжения образцов в колоне микроскопа.
Оказываемые услуги:
- Исследование микроструктуры при увеличениях от 20 до 60000 крат методом растровой электронной микроскопии.
- Фрактографические исследования.
- Определение величины зерна, загрязненности неметаллическими включениями, определение типа неметаллических включений.
- Анализ соответствия микроструктуры требованиям ГОСТ.
- Анализ причин разрушения металлических конструкций и изделий комплексным исследованием микроструктуры стали или сплава, морфологии защитных покрытий, коррозионных, усталостных или иных повреждений.
Даты приобретения и модернизации:
- 1986 - Приобретение.
- 2008 - Установка системы компьютерного управления и регистрации изображений.
2. Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG
Технические характеристики:
- Полусферический анализатор энергии, разрешение до 2.5 мэВ.
- Вакуум 10-8 Па, Монохроматическое Al Kalpha излучение и немонохроматическое Al Kalpha/Mg Kalpha излучение, температуры -196 до 650 °С, ионное травление.
- Электронная сканирующая пушка LEG200, ионное травление.
- Электронный источник монохроматических медленных электронов EMU50 (17 мэВ, от 0 до 100 эВ).
- Сканирующий источник ионов аргона (пятно диаметром 0.5 мм), масс-спектрометр квадрупольного типа SQ300, устройство консольного разрушения образцов для получения изломов в высоком вакууме, механическая или ионная очистка поверхности образцов.
Оказываемые услуги:
- Исследование химического состава и электронной структуры твердых тел. Элементный состав (все
элементы периодической системы):
- Электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA)/рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS).
- Спектроскопия и микроскопия Оже-электронов.
- Сканирующая микроскопия плазмонных потерь в тонких плёнках.
- Спектроскопия потерь энергии медленных электронов высокого разрешения (HREELS):
- Исследование тонких деталей электронных уровней вблизи запрещённой зоны для построения карт распределения электронной плотности в обратном пространстве.
- Спектроскопия фононных и плазмонных потерь.
- Вибрационная спектроскопия для идентификации молекул, адсорбированных на поверхности.
- Анализ атомной структуры тонких пленок и поверхности (EELFS). Исследования образцов при низких и повышенных температурах -196 – 650 °С.
- Исследования кинетики многокомпонентного зернограничного сегрегирования в различных материалах.
- Масс-спектроскопия вторичных ионов.
Даты приобретения и модернизации:
- 1986 - Приобретение.
- 1998 - Разработка метода EELFS.
- 2002 - Новая программно-аппаратная система управления спектрометром.
- 2015 - Разработка метода Оже- и плазмонной микроскопии; дополнение программно-аппаратной системы управления спектрометром для масс-спектрометрии вторичных ионов.
- 2018 - Обновлённая версия программно-аппаратной системы управления спектрометром.
- 2019 - Установлен рентгеновский источник c двойным анодом Al/Mg.
- 2023 - Обновлённая версия программно-аппаратной системы управления спектрометром Spectrum2.
О системе управления спектрометром
3. Времяпролётный масс-спектрометр TOF.SIMS5-100 (IONTOF, Германия)
Технические характеристики:
- Источники ионов: Bi, Cs, N2/O2.
- Охлаждение и нагрев образцов -196 – 650 °С.
Оказываемые услуги:
- Элементный и изотопный анализ поверхности, построение распределения элементов по площади и по глубине.
Даты приобретения и модернизации:
- 2019 - Приобретение.
4. Микроанализатор ATD M4 французской фирмы SETARAM
 
Технические характеристики:
- Температуры -196 – 1600 °С.
Оказываемые услуги:
- Определение тепловых эффектов, сопровождающих структурные или фазовые превращения.
Даты приобретения и модернизации:
- 1989 - Приобретение.
- 2002 - Компьютерный сбор и обработка информации.
Калибровка оборудования
Электронный спектрометр Escalab Mk2 и сканирующий электронный микроскоп JSM-35C прошли процедуру калибровки средств измерений.