О программном комплексе Spectrum2
Назначение программы
- Система управления спектрометром и регистрации спектра.
- Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, XPS).
- Оже-спектроскопия и сканирующая Оже-микроскопия (ОЭС, ОЭМ, AES, AEM).
- Спектроскопия и микроскопия плазмонных потерь.
- Спектроскопия потерь энергии медленных электронов высокого разрешения (СПЭЭВР, HREELS).
- Масс-спектроскопия вторичных ионов (МСВИ, SIMS).
Обновлённая система управления спектрометром и регистрации спектра Spectrum2
Программа предназначена для управления электронными спектрометрами через интерфейсную плату Егора Тихонова и является глубокой модернизацией его программы Spectrum с существенным расширением возможностей, предоставляемых электроникой спектрометра ESCALAB Mk2 и аналогичных.
Setup Experiment (основные изменения)
- Изменён набор источников сигнала:
- XPS - с возможностью выбора записи в кинетических энергиях (KE) или энергиях связи (BE).
- Сканирующая Оже-пушка LEG200 с регистрацией спектров кинетических энергий электронов в режимах N(E) или dN/dE.
- Источник монохроматических медленных электронов EMU50 может формировать сигнал в режиме стандартного (шаг 0.05 эВ) или высокого (шаг 0.0025 эВ) разрешения анализатора. Этот же режим может использоваться при использовании ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФС, UPS).
- Масс-спектроскопия вторичных ионов с источником – сканирующей аргоновой пушкой AG61 и масс-спектрометром SQ300.
- В зависимости от выбранного режима анализатора CAE/CRR индицируется выбираемое значение Pass energy/Retard ratio.
- Добавлен калькулятор времени эксперимента.
Окно задания параметров эксперимента Setup Experiment.
Spectrum (основные изменения)
- Уточнена логика взаимодействия программы с оборудованием, устранены ошибки выставления энергии анализируемых электронов.
- Для уменьшения общего времени эксперимента и потерь времени на релаксацию электроники запись спектров идёт в двух направлениях: нечётные сканы — с возрастанием энергии, а чётные — с уменьшением.
- Добавлен режим Adjustment установки оптимального положения образца по максимуму характеристической линии.
- При использовании источника LEG200 с регистрацией спектров в интегральной или дифференциальной форме возможно программирование Imaging выбором энергий съёмки изображений или переход непосредственно в окно Imaging с текущими установками параметров съёмки.
Главное окно Spectrum. Процесс съёмки спектра.
Imaging и LineScan
Это принципиально новые функции программы, использующие возможности штатных блоков ESCALAB Mk2.
Помимо съёмки распределений интенсивностей электронов по площади или вдоль заданной линии сканирования, предусмотрены простейшие операции обработки данных:
- Разность интенсивностей в одинаковых точках при разных энергиях Icorr = I2 – I1 для анализа размаха дифференцированного Оже-сигнала заданного элемента в разных точках.
- Компенсация топографического контраста для изображений, снятых в режиме N(E) Icorr = (P – B)/B.
- Нормализация интенсивностей вторичных характеристических пиков, например, пика плазмонных потерь, на интенсивность первичного пика Icorr = Ipl/IEl.
Окно Imaging. Процесс съёмки распределений интенсивностей электронов по площади.
На изображении, полученном в Imaging, можно определить линию для анализа интенсивностей характеристических пиков вдоль неё с высоким разрешением, а также выбрать интересующие точки для регистрации спектров и проведения количественного Оже-анализа.
Программирование LineScan: задание линии сканирования и запись интенсивностей вдоль неё.
Пример использования программы
Исследование многослойного покрытия TiAlN - Ag:
а - изображение в упруго рассеянных электронах;
б - распределение серебра и титана вдоль линии 1 - 1.