Для заказа исследований загрузить бланки заявок и проект договора.
№ | Полное наименование услуги | Ед. измерения | Краткое описание услуги | Тип прибора | Стоимость услуги, руб. |
---|---|---|---|---|---|
1 |
Исследование микроструктуры образцов из стали, сплавов + приготовление металлографического шлифа и травление для выявления микроструктуры и морфологии неметаллических включений, карбидной или интерметаллидной фаз. |
1 исследование |
Исследование микроструктуры при увеличениях от 20 до 10000 крат методом растровой электронной микроскопии. Определение величины зерна, загрязненности неметаллическими включениями, определение типа неметаллических включений. Анализ соответствия микроструктуры требованиям ГОСТ. |
Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный SPD детектором и возможностью исследования в режимах Z-contrast, SEI, BEI, AEI. |
15000-37500 |
2 |
Анализ причин разрушения металлических конструкций и изделий комплексным исследованием микроструктуры стали или сплава, морфологии защитных покрытий, коррозионных, усталостных или иных повреждений. |
1 исследование |
Вырезка образцов. Изготовление металлографических шлифов. Исследование микроструктуры поперечных сечений, морфологии поверхности, фрактографическое исследование зон разрушения или деградации. |
Растровый электронный микроскоп JSM35С японской фирмы JEOL. |
37500-40000 |
3 |
Разрушение образцов «in situ» в растровом электронном микроскопе для изучения микромеханизма разрушения. |
1 исследование |
Изготовление специальных образцов с надрезом с эл. полированной или травленной поверхностью, плавное механическое нагружение растяжением с постадийной съемкой изображений при малых и высоких увеличениях с анализом зон локализации деформаций. |
Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный приставкой для растяжения образцов в колоне микроскопа. |
45000 |
4 |
Электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) |
1 исследование |
Определение химического состава поверхности и тонких пленок. Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления. Определение фазового состава. Исследование валентной зоны. Исследование энергии экстра-атомной релаксации и других тонких электронных взаимодействий в химических соединениях, включениях, квантовых точках, нанокристаллах. |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Монохроматизированное Al K-альфа излучение, температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
45000-55000 |
5 |
Спектроскопия Оже-электронов. |
1 исследование |
Определение химического состава поверхности и тонких пленок. Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления. Исследование неоднородности распределения химических элементов по направлению при изучении ликвации или микросегрегаций. Построение диаграмм многокомпонентной сегрегации химических элементов при нагреве образцов до 600 °С. Оже-микроскопия. |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
55000-65000 |
6 |
Вибрационная электронная спектроскопия (HREELS). |
1 исследование |
Анализ адсорбированных молекул, анализ фононных и плазмонных возбуждений. |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.0025 эВ). Электронный источник медленных электронов EMU50 с монохроматизацией энергии первичных электронов (17 мэВ) от 0 до 100 эВ , температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
55000 |
7 |
Исследование атомной структуры поверхности по спектрам потери энергии электронов (EELFS). |
1 исследование |
Получение и Фурье-анализ протяженной тонкой структуры спектров потери энергии электронов с построением обобщенной и локальной функции радиального распределения. |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
55000-65000 |
8 |
Плазмонная электронная микроскопия. |
1 исследование |
Картины линейного и пространственного распределения плазмонных возбуждений од действием электронной бомбардировки. |
Применение уникальной компьютерной программы управления спектрометром и анализом изображений. Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
55000-65000 |
9 |
Определение следовых содержаний химических элементов, от водорода и до 300 атомных масс методом масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS). |
1 исследование |
Спектры масс положительных и отрицательных вторичных ионов. |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG. Сканирующий источник ионов аргона (пятно диаметром 0.5 мм), масс-спектрометр квадрупольного типа SQ300 (0 — 300 аем, разрешение 0,07 аем), температуры -196 до 550 °С. |
55000-65000 |
10 |
Анализ поверхности разрушения при получении излома в глубоком вакууме 10-18 Па при -70 °С. |
1 исследование |
XPS, AES, SIMS |
Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Различные источники возбуждения сигнала. Температуры -196 до 550 °С, ионное травление. |
45000-55000 |
11 |
Дифференциальный термический анализ. |
1 исследование |
Определение тепловых эффектов, сопровождающих структурные или фазовые превращения. |
Микроанализатор ATD M4 французской фирмы SETARAM Температуры 196 – 1600 °С. |
55000 |